Какова микро и нано структура материала?

Каково содержание химических элементов в анализируемом образце?

Какое значение коэффициентов диффузии контактирующих материалов?

Каков концентрационный градиент химических элементов диффундирующих материалов?

Каково распределение структурных элементов по размерам?

    На эти или подобные вопросы ответы могут быть найдены с помощью сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.

    Наша лаборатория обладает тремя сканирующими электронными микроскопами (JEOL JSM 6490 LV, JEOL JSM U-3, Philips PSEM-500) и рентгеноспектральными анализаторами с дисперсией по энергиям (Eumex и Kevex-Ray) и длинам волн (Microspec). Препарирование образцов для сканирующей электронной микроскопии в нашей лаборатории осуществляется при помощи криоультрамикротома(LKB-PRODUKTER AB), вакуумных универсальных постов (ВУП-5 и Edwards), магнетрона (JEOL JFC-1600) и прибора осуществляющего травление в плазме кислородного разряда для выявления надмолекулярной структуры материалов.

    Возможности сканирующих электронных микроскопов нашей лаборатории:

- изучение микро- и наноструктуры самого широкого круга материалов (нанокомпозиты, полимерные гомо- и гетерогенные структуры, металлы, сплавы, керамика, полупроводниковые материалы, синтетическая продукция);

- работа с увеличением до 300 тысяч, разрешением до 3 нм с большой глубиной резкости на образцами до 200 мм в диаметре;

- исследование непроводящих и биологических объектов в режиме низкого вакуума без нанесения проводящих покрытий;

- качественный и количественный энергодисперсионный химический микроанализ исследуемых объектов (начиная с Be);

- получение карт и профилей распределения химического состава в анализируемых объектах.