|
Какова микро и нано структура материала?
Каково содержание химических элементов в анализируемом образце?
Какое значение коэффициентов диффузии контактирующих материалов?
Каков концентрационный градиент химических элементов диффундирующих материалов?
Каково распределение структурных элементов по размерам?
На эти или подобные вопросы ответы могут быть найдены с помощью сканирующей электронной микроскопии
с рентгеноспектральным микроанализом.
Наша лаборатория обладает тремя сканирующими электронными микроскопами (JEOL JSM 6490 LV, JEOL JSM U-3, Philips PSEM-500) и рентгеноспектральными анализаторами с дисперсией по энергиям (Eumex и Kevex-Ray) и длинам волн (Microspec).
Препарирование образцов для сканирующей электронной микроскопии в нашей лаборатории осуществляется при помощи
криоультрамикротома(LKB-PRODUKTER AB), вакуумных универсальных постов (ВУП-5 и Edwards), магнетрона (JEOL JFC-1600) и прибора осуществляющего травление
в плазме кислородного разряда для выявления надмолекулярной структуры материалов.
Возможности сканирующих электронных микроскопов нашей лаборатории:
- изучение микро- и наноструктуры самого широкого круга материалов
(нанокомпозиты, полимерные гомо- и гетерогенные структуры, металлы, сплавы, керамика,
полупроводниковые материалы, синтетическая продукция);
- работа с увеличением до 300 тысяч, разрешением до 3 нм с большой глубиной резкости на образцами до 200 мм в диаметре;
- исследование непроводящих и биологических объектов в режиме низкого вакуума без нанесения проводящих покрытий;
- качественный и количественный энергодисперсионный химический микроанализ исследуемых объектов (начиная с Be);
- получение карт и профилей распределения химического состава в анализируемых объектах.
| 
